フォトルミネッセンス法を用いた3C-SiCの積層欠陥の観察

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Date

2010-03-23

Authors

HIRANO, RII / 平野, 梨伊

Publisher

慶應義塾大学理工学研究科

Description

修士（工学）, 2009, 基礎理工学専攻

Keywords

フォトルミネッセンス, 3C-SiC, 積層欠陥, Photoluminescence, 3c-SiC, stacking faults

URI

/sigma_local/handle/10721/4837

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