Si/SiGe中2次元電子の電界変調と移動度測定
dc.contributor.advisor | 伊藤, 公平 / 教授 | |
dc.contributor.author | TANAKA, SHINNOSUKE / 田中, 伸之介 | |
dc.date.accessioned | 2016-10-13T07:15:40Z | |
dc.date.available | 2016-10-13T07:15:40Z | |
dc.date.issued | 2016-03-23 | |
dc.description | 修士(工学), 2015, 基礎理工学専攻 | |
dc.identifier.uri | /sigma_local/handle/10721/9458 | |
dc.publisher | 慶應義塾大学理工学研究科 | |
dc.subject | Si/SiGeヘテロ構造 | ja |
dc.subject | 2次元電子ガス | ja |
dc.subject | ホール効果測定 | ja |
dc.subject | Si/SiGe heterostructure | en |
dc.subject | two-dimensional electron gas | en |
dc.subject | Hall effect measurement | en |
dc.title | Si/SiGe中2次元電子の電界変調と移動度測定 | |
dc.title.alternative | Electric Field Modulation and Mobility Measurement of Two-Dimensional Electron Gas in Si/SiGe | |
dc.type | 学位論文 |
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