強制レイリー散乱法を用いた透明導電膜の温度伝導率測定
| dc.contributor.author | Han, Dong / 韓, 冬 | |
| dc.date.accessioned | 2014-05-16T01:08:11Z | |
| dc.date.available | 2014-05-16T01:08:11Z | |
| dc.date.issued | 2007-03-23 | |
| dc.description | 修士（工学）, 2006, 総合デザイン工学専攻 | |
| dc.identifier.uri | /sigma_local/handle/10721/3231 | |
| dc.language | ja | |
| dc.publisher | 慶應義塾大学理工学研究科 | |
| dc.subject | indium tin oxide | en |
| dc.subject | transparent conductive thin film | en |
| dc.subject | thermal diffusivity | en |
| dc.subject | forced rayleigh scattering method | en |
| dc.subject | ITO薄膜 | ja |
| dc.subject | 透明導電膜 | ja |
| dc.subject | 温度伝導率 | ja |
| dc.subject | 熱拡散率 | ja |
| dc.subject | 強制レイリー散乱法 | ja |
| dc.title | 強制レイリー散乱法を用いた透明導電膜の温度伝導率測定 | en_US |
| dc.title.alternative | Thermal Diffusivity Measurement of Transparent Conductive Thin Films by the Forced Rayleigh Scattering Method | en_US |
| dc.type | 学位論文 |