A Study on 0.6 - 3.5 GHz Wideband Operation with 0.3° Phase Resolution CMOS On-Chip Network Analyzer Circuit
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Date
2012-03-23
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Publisher
慶應義塾大学理工学研究科
Abstract
Description
修士（工学）, 2011, 総合デザイン工学専攻
Keywords
広帯域幅, 組み込みテスター, 高分解能測定器, On-Chip BIST, Build-in Network Analyzer, Analog BIST