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配位子保護精密金属ナノクラスター単層膜のメモリデバイス動作の解明

dc.contributor.advisor中嶋, 敦 / 教授
dc.contributor.authorYOKOYAMA, TAKAHO / 横山, 高穂
dc.date.accessioned2018-11-16T03:56:41Z
dc.date.available2018-11-16T03:56:41Z
dc.date.issued2018-09-21
dc.description修士(理学), 2018, 基礎理工学専攻
dc.identifier.uri/sigma_local/handle/10721/11294
dc.publisher慶應義塾大学理工学研究科
dc.subjectja
dc.subjectナノクラスターja
dc.subjectLangmuir-Blodgett膜ja
dc.subject浮遊ゲートメモリーja
dc.subject赤外反射吸収分光法ja
dc.subjectGolden
dc.subjectNanoclusteren
dc.subjectLangmuir-Blodgett filmen
dc.subjectFloating gate memoryen
dc.subjectInfra-red reflection absorption spectroscopyen
dc.title配位子保護精密金属ナノクラスター単層膜のメモリデバイス動作の解明
dc.title.alternativeCharacterization of memory devices based on monolayer of precisely synthesized ligand protected metal nanoclusters
dc.type学位論文

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