SiC中格子欠陥におけるX線光電子分光の第一原理的研究
| dc.contributor.advisor | 山内, 淳 / 准教授 | |
| dc.contributor.author | MATSUSHIMA, NAOKI / 松島, 直輝 | |
| dc.date.accessioned | 2016-07-12T07:55:14Z | |
| dc.date.available | 2016-07-12T07:55:14Z | |
| dc.date.issued | 2013-03-23 | |
| dc.description | 修士（理学）, 2012, 基礎理工学専攻 | |
| dc.identifier.uri | http://iroha.scitech.lib.keio.ac.jp:8080/sigma_local/handle/10721/6676 | |
| dc.publisher | 慶應義塾大学理工学研究科 | |
| dc.subject | X線光電子分光 | ja |
| dc.subject | 第一原理計算 | ja |
| dc.subject | シリコンカーバイド | ja |
| dc.subject | XPS | ja |
| dc.subject | SiC | ja |
| dc.subject | X-ray photoelectron spectroscopy | en |
| dc.subject | first principles calculation | en |
| dc.subject | silicon carbide | en |
| dc.subject | XPS | en |
| dc.subject | SiC | en |
| dc.title | SiC中格子欠陥におけるX線光電子分光の第一原理的研究 | |
| dc.title.alternative | First Principles XPS Study on the Defects in SiC | |
| dc.type | 学位論文 |