故障原因不明を含むデータによる競合リスクモデルの統計的解析

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dc.contributor.author	Nagai, Yoshimitsu / 永井, 義満	en_US
dc.date.accessioned	2014-05-09T07:07:08Z
dc.date.available	2014-05-09T07:07:08Z
dc.date.issued	2005-03-02	en_US
dc.identifier.uri	http://iroha.scitech.lib.keio.ac.jp:8080/sigma/handle/10721/1896
dc.description	博士（工学）, 2004, 開放環境科学専攻	en_US
dc.language	jpn	en_US
dc.publisher	慶應義塾大学理工学研究科	en_US
dc.subject	マスキング	ja
dc.subject	2段階調査法	ja
dc.subject	ショックモデル	ja
dc.subject	逆抽出	ja
dc.subject	masking	en
dc.subject	2-stage procedure	en
dc.subject	shock model	en
dc.subject	inverse binomial sampling	en
dc.title	故障原因不明を含むデータによる競合リスクモデルの統計的解析	en_US
dc.title.alternative	Statistical analysis of masked date competing risk models	en_US
dc.type	学位論文	en_US

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