ピコ秒サーモリフレクタンス法を用いた薄膜熱物性計測技術
| dc.contributor.author | Taketoshi, Naoyuki / 竹歳, 尚之 | en_US |
| dc.date.accessioned | 2014-05-09T07:07:02Z | |
| dc.date.available | 2014-05-09T07:07:02Z | |
| dc.date.issued | 2004-03-03 | en_US |
| dc.description | 博士 (工学), 2003年度, 総合デザイン工学専攻 | en_US |
| dc.identifier.uri | http://iroha.scitech.lib.keio.ac.jp:8080/sigma/handle/10721/1882 | |
| dc.language | jpn | en_US |
| dc.publisher | 慶應義塾大学理工学研究科 | en_US |
| dc.subject | 薄膜 | ja |
| dc.subject | 熱物性 | ja |
| dc.subject | サーモリフレクタンス法 | ja |
| dc.subject | thin film | en |
| dc.subject | thermophysical property | en |
| dc.subject | thermoreflectance | en |
| dc.title | ピコ秒サーモリフレクタンス法を用いた薄膜熱物性計測技術 | en_US |
| dc.title.alternative | Thermophysical Property Measurements of Thin Films Using a Picosecond Thermoreflectance Technique | en_US |
| dc.type | 学位論文 | en_US |
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