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ピコ秒サーモリフレクタンス法を用いた薄膜熱物性計測技術

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Date

2004-03-03

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慶應義塾大学理工学研究科

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博士 (工学), 2003年度, 総合デザイン工学専攻

Keywords

薄膜, 熱物性, サーモリフレクタンス法, thin film, thermophysical property, thermoreflectance

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