故障原因不明を含むデータによる競合リスクモデルの統計的解析
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Date
2005-03-02
Authors
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Publisher
慶應義塾大学理工学研究科
Abstract
Description
博士（工学）, 2004, 開放環境科学専攻
Keywords
マスキング, 2段階調査法, ショックモデル, 逆抽出, masking, 2-stage procedure, shock model, inverse binomial sampling