故障原因不明を含むデータによる競合リスクモデルの統計的解析
dc.contributor.author | Nagai, Yoshimitsu / 永井, 義満 | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-05-09T07:07:08Z | |
dc.date.available | 2014-05-09T07:07:08Z | |
dc.date.issued | 2005-03-02 | en_US |
dc.description | 博士(工学), 2004, 開放環境科学専攻 | en_US |
dc.identifier.uri | http://iroha.scitech.lib.keio.ac.jp:8080/sigma/handle/10721/1896 | |
dc.language | jpn | en_US |
dc.publisher | 慶應義塾大学理工学研究科 | en_US |
dc.subject | マスキング | ja |
dc.subject | 2段階調査法 | ja |
dc.subject | ショックモデル | ja |
dc.subject | 逆抽出 | ja |
dc.subject | masking | en |
dc.subject | 2-stage procedure | en |
dc.subject | shock model | en |
dc.subject | inverse binomial sampling | en |
dc.title | 故障原因不明を含むデータによる競合リスクモデルの統計的解析 | en_US |
dc.title.alternative | Statistical analysis of masked date competing risk models | en_US |
dc.type | 学位論文 | en_US |