水素化処理多結晶シリコンTFTの電気的ストレスによる劣化機構に関する研究

Date

2002-03-23

Authors

Jeong, Yunsik / 鄭, 然植

Publisher

慶應義塾大学理工学研究科

Description

博士 (工学), 2001年度, 電気工学専攻

URI

http://iroha.scitech.lib.keio.ac.jp:8080/sigma/handle/10721/1713

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