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水素化処理多結晶シリコンTFTの電気的ストレスによる劣化機構に関する研究
| タイトル: | 水素化処理多結晶シリコンTFTの電気的ストレスによる劣化機構に関する研究 |
| 著者: | Jeong, Yunsik / 鄭, 然植 |
| 記述: | 博士 (工学), 2001年度, 電気工学専攻 |
| URI: | http://iroha.scitech.lib.keio.ac.jp:8080/sigma/handle/10721/1713 |
| 日付: | 2002-03-23 |
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