- ΣStar（シグマスター）について
- コレクション
- 博士論文
- 修士論文 [矢上限定公開]
- 就任講演・最終講義（映像）
-
研究会・ワークショップ資料
-
理工学部の歴史資料
[矢上限定公開] -
理工学部体育会の歴史資料
[一般公開] -
理工学部体育会の歴史資料
[矢上限定公開] - 理工学メディアセンターニュース
-
理工学メディアセンター50年誌
- お問い合わせ
- ヘルプ
- ホーム
- 大学院理工学研究科 博士論文
- 2003年度
- アイテム表示
ピコ秒サーモリフレクタンス法を用いた薄膜熱物性計測技術
| タイトル: | ピコ秒サーモリフレクタンス法を用いた薄膜熱物性計測技術 |
| 著者: | Taketoshi, Naoyuki / 竹歳, 尚之 |
| 記述: | 博士 (工学), 2003年度, 総合デザイン工学専攻 |
| URI: | http://iroha.scitech.lib.keio.ac.jp:8080/sigma/handle/10721/1882 |
| 日付: | 2004-03-03 |
このアイテムのファイル
| ファイル | サイズ | フォーマット | 閲覧 |
|---|---|---|---|
| document.pdf | 27.26Mb | 閲覧/開く | |
| description_en.pdf | 13.11Kb | 閲覧/開く | |
| description_ja.pdf | 14.48Kb | 閲覧/開く |
このアイテムは次のコレクションに所属しています
