| dc.contributor.author |
Taketoshi, Naoyuki / 竹歳, 尚之 |
en_US |
| dc.date.accessioned |
2014-05-09T07:07:02Z |
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| dc.date.available |
2014-05-09T07:07:02Z |
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| dc.date.issued |
2004-03-03 |
en_US |
| dc.identifier.uri |
http://iroha.scitech.lib.keio.ac.jp:8080/sigma/handle/10721/1882 |
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| dc.description |
博士 (工学), 2003年度, 総合デザイン工学専攻 |
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| dc.language |
jpn |
en_US |
| dc.publisher |
慶應義塾大学理工学研究科 |
en_US |
| dc.subject |
薄膜 |
ja |
| dc.subject |
熱物性 |
ja |
| dc.subject |
サーモリフレクタンス法 |
ja |
| dc.subject |
thin film |
en |
| dc.subject |
thermophysical property |
en |
| dc.subject |
thermoreflectance |
en |
| dc.title |
ピコ秒サーモリフレクタンス法を用いた薄膜熱物性計測技術 |
en_US |
| dc.title.alternative |
Thermophysical Property Measurements of Thin Films Using a Picosecond Thermoreflectance Technique |
en_US |
| dc.type |
学位論文 |
en_US |
