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低温ポリシリコンTFTの電気的ストレス劣化特性に関する研究
| タイトル: | 低温ポリシリコンTFTの電気的ストレス劣化特性に関する研究 |
| 著者: | Toyota, Yoshiaki / 豊田, 善章 |
| 記述: | 博士（工学）, 2009, 総合デザイン工学 |
| URI: | http://iroha.scitech.lib.keio.ac.jp:8080/sigma/handle/10721/2441 |
| 日付: | 2010-03-01 |
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| ファイル | サイズ | フォーマット | 閲覧 |
|---|---|---|---|
| document.pdf | 2.713Mb | 閲覧/開く | |
| description_en.pdf | 30.65Kb | 閲覧/開く | |
| description_ja.pdf | 21.50Kb | 閲覧/開く |
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